DFT笔记112 📅 2026/8/24 14:20:42 一个测量floating component的可替代的办法是加压测流如下图所示用这个配置的时候务必要小心下图展示的是图11.53等效的电路模型DUT的电压和电流公式为由于理想的电压源和理想的电流测量仪的输出电阻应该是0Ω那么上面两个公式退化方程变为11.4.4.3 Complex Network Measurement更多的pins之间的网络连接可以用相似的方式测量下图展示的就是一个典型的一个电路的P1/P2和另一个电路的P3/P4之间的两端口网络连接所有的pins假设都配备有ABMs考虑一个H参数的例子下表对应就是H参数测量的配置测量这个两端口网络比如有short-circuit admittance (Y)open-circuit impedance (Z)inverse-hybrid (G)可以用相似的方法。11.4.4.4 High-Performance Configuration上面也有讨论过CMOS开关的电阻阻值比金属导线高很多这就导致测试总线的寄生电容成为了一个重要的考量像图11.43所示的一样总线的走线环绕着整个板子并且连接到每一个1149.4的芯片上整个和总线相关的寄生电容的量级在几十个pF 一个典型的pin的寄生电容一般是2∼4pF一个连线大概是0.5∼1pF1-cm wire电容有0.25∼0.5pF所以带宽严重受限于总线的寄生电容和开关的寄生电阻这样的话高频信号就不能被送入去测试高速电路。所以对于有特殊测试需求的电路高频激励需要有用来去激发频率相关的故障在这样的需求下有一个标准的建议就是将passive switches替换为activecurrent buffersandvoltage buffers下图展示的就是一个buffered ABM and TBIC11.5 CONCLUDING REMARKS总之在模拟和混合信号测试中经验和知识一样重要而且未探索到的领域多于探索到的在混合与模拟信号测试中拥有长期投入深入调查创新思维才能取得成功。