控制回路稳定性对所有系统的性能都至关重要,因为它会影响所有闭环参数以及系统噪声。遗憾的是,在许多情况下(特别是在基准电压、固定电压 LDO 和集成 POL 的情况下),波特图评估是不可行的,因为没有反馈回路访问该器件。在其他情况下,由于硬件已集成或需要切割印刷电路板 (PCB) 走线,因此很难访问反馈回路。在其他情况下,器件要么包含多个控制回路(其中只有一个是可访问的),要么控制回路的阶数高于二阶,在这种情况下,波特图对相对稳定性的预测性很差。更复杂的是,在许多便携式电子产品(如手机和平板电脑)中,电路非常小且人口密集,几乎不会妨碍对控制回路元件的访问。在这些情况下,非侵入式稳定裕度 (NISM) 评估(源自易于访问的输出阻抗测量)是验证稳定性的唯一方法。
NISM 根据输出阻抗 [1] 计算稳定性。2 端口分流穿透阻抗测量是测量 VRM 在微欧姆和毫欧姆区域的输出阻抗的黄金标准 [2];但是,如果不将 SMA 直接连接到 PCB 或被测器件 (DUT),则并不总是能够进行这些测量。因此,当设计人员使用矢量网络分析仪 (VNA) 进行这些类型的测量时,连接 DUT 的方法需要注意细节,以确保电感和各种误差源最小化,从而实现准确测量。为了充分利用 VNA,您需要使用正确的探头和附件,以确保您的测量成功。使用浏览器探测器(如P2102A 这样的点测探头,您可以快速表征多个 VRM 以确保稳定性,甚至可以在初始供电网络 (PDN) 设计期间检查您的模型是否准确。
Picotest P2102A 2 端口 PDN 传输线探头是一种点式探头,可在尖端实现非常低的电感,以减轻密集 PCB 上的空间限制,同时无需焊接同轴电缆、添加额外的 SMA 连接或阻抗测量所需的其他测试点。当有数十个电源轨需要评估,而没有时间或PCB迭代来为每个电源轨提供测试点实现时,它特别有用。由于只需将尖端接触输出电容器即可进行连接,因此简化了重复测量。该探头带有 4 个探头尖端,可对 PCB 上的各种 SMD 封装进行测量,例如 1206、0805、0603 或 0402。P2102A 探头尖端提供 1X、2X、5X 和 10X 衰减以及 DC Block 选项。这使用户能够灵活地在较宽的电压范围内进行测量。例如,2X 探头可以在没有 DC 块的情况下测量 6Vrms。权衡是衰减会增加阻抗本底。简而言之,这款 2 端口 P2102A 探头最适合在评估 PDN 的同时评估电源的稳定性。另一个好处是,您还可以使用 P2102A 探头进行 VRM、电源平面和去耦测量,同时评估电源的稳定性。
本文的目标是向设计和测试工程师展示如何使用 Picotest 专有的无创稳定裕度 (NISM) 软件,高效、快速地准确捕获 VRM 或电源轨的控制稳定性。本应用指南适用于 Keysight E5061B 和 P2102A 2 端口探头。它还将展示如何将此浏览器探针用作快速 GO/NO-GO 测试器。在本应用说明中,将通过图 1 所示的过程详细测量两个 DUT。

图 1 - 阻抗测量过程。
测试设备清单
描述 | 型 | 数量 |
矢量网络分析仪 | Keysight E5061B | 1 |
2 端口 PDN 传输线探针套件 | 皮秒测试 P2102A-1X | 1 |
共模变压器 | 皮秒 J2102B-N | 1 |
2 端口探头适配器面板 | 皮秒测试 J2160A | 1 |
Picotest PDN 电缆®,BNC-BNC,0.25 米 | BNCJ/BNCJ-250 型 | 1 |
N 公头转 BNC 母头适配器 | 帕斯捷尔纳克 PE9002 | 2 |
3D 探头定位器 | 皮秒测试 3DPP-200 | 1 |
VRM 演示板(平坦和可变阻抗) | LM20143B | 1 |
VRM - Infineon PS5401 评估版 (DUT) | EVAL_PS5401-INT | 1 |
校准板/基板 | 包含在 Picotest P2102A 套件中 | 1 |

图 2 - Picotest P2102A 探头、P2102A 探头尖端、Picotest PDN 电缆、J2102B 接地隔离器、适配器、校准基板和用于测量的探头支架(用于端口 1 端口 2、N 连接器 S 参数端口)。

图 3 - Picotest P2102A 探头、P2102A 探头尖端、J2160A、校准基板和用于测量的探头支架(用于低频 RF(T/R) BNC 连接器端口)。

图 4 - Picotest LM20143 DUT*(左)和 Infineon PS5401 评估 DUT(右)。
*注:在本文档中,Picotest LM20143 测试板可能称为 Flat DUT 和 Not Flat (NF) DUT.
测量设置
P2102A-2X 探头尖端包括 50 个 Ω 串联电阻器 (Rs),可以在 E5061B 校准菜单中进行设置/说明。图 5 和图 6 描述了如何将 DUT 连接到带有 E5061B S 参数端口的 2 端口 P2102A 探头。
对于其他 P2102A-#X 探头尖端型号,请按照以下 E5061B VNA 中的 Rs 设置:
P2102A-1X - Rs = 0Ω
P2102A-2X - Rs = 50Ω
P2102A-5X - Rs = 200Ω
P2102A-10X - Rs = 450Ω
使用 Keysight E5061B VNA,P2102A 有两种可能的 2 端口分流直通测量装置,可与 NISM 配合使用。
一种设置包括 Picotest J2102B 共模变压器,连接到 E5061B S 参数端口上的端口 1 和 2,如图 5 所示。此设置所需的测试设备如图 2 所示。
shunt-thru 配置在低频时本身就存在接地环路误差。流过通道 2 接地连接的电缆屏蔽层的电流会引入测量误差,当测量非常低的阻抗值时,该误差在 10 kHz 至 100 MHz 之间的频率上可能会变得很大。为了减少低频下的接地回路误差,请使用接地隔离器或共模变压器(例如 J2102B)或有源隔离器件,例如 J2113A [12]。

图 5 - 使用 E5061B 和 Picotest 接地隔离器 J2102B 的串联电阻阻抗测量装置的 2 端口分流器。
另一种测量设置包括 Picotest J2160A 2 端口探头适配器,该适配器连接到 E5061B 上的 T/R 端口低频 VNA BNC 端口,如图 6 所示。此设置所需的测试设备如图 3 所示。
Picotest J2160A 探头适配器在 2 端口分流测量中使用 E5061B T/R 端口时,可提供低噪声、紧凑的解决方案。它将仪器的 3 个 GP 端口转换为执行 2 端口分流直通测量所需的 2 个端口。T/R 端口适用于低频 2 端口测量,因为接收器端口是半浮动的,允许进行低阻抗测量没有使用同轴共模变压器,例如 J2102B。浮动端口允许在非常低的频率和高达 30 MHz 的 T/R 端口范围内进行毫欧姆测量。

图 6 - 使用 E5061B 和 Picotest J2160A 2 端口探头适配器的串联电阻阻抗测量装置的 2 端口分流器。
2 端口探针用户通常拥有一个探针台;然而,对设置相机、显微镜、校准等的承诺,比有时简单的 VRM 稳定性甚至阻抗测量所需的承诺要大得多。这就是 P2102A 探头在移动中提供了一个很好的选择的地方,如图 7 和图 8 所示。

图 7 - 使用 DUT、P2102A 探头和 J2102B 共模变压器校准后的测量设置。


图 8 - 使用 DUT、P2102A 探头和 J2160A 2 端口探头适配器校准后的测量设置。
在进行任何测量之前,应确保使用正确的校准方法对设置进行校准。E5061B VNA 具有多个校准选项,如 E5061B 用户手册的表 4-1 所示。正确的校准至关重要,因为它可以校正接触电阻、尖端电感和耦合。由于 NISM 方法仅查看电源的相位裕量以获得稳定性,因此 Picotest 建议使用 THRU 校准方法以获得准确的 NISM 结果。
图 9 和图 10 描述了每个 DUT 上的探针尖端位置。对于图 9,在测量前移除了 0603 电容器 (C42),然后使用 0603 探头尖端,如图所示;但是,无需移除电容器即可进行此测量。为了便于识别,带有标签的探头侧表示正信号侧。

图 9 - DUT 上的探头位置 - Infineon PS5401 评估在 C42 处。

图 10 - 探测在被测设备上的位置 - LM20143 在 J2 处。
测量结果

图 11 - PS5401 VRM 上 J2102B 的 NISM 输出阻抗结果。

图 12 - J2102B 在 LM20143 NF VRM 上的 NISM 输出阻抗结果。

图 13 - J2102B 在 LM20143 FLAT VRM 上的 NISM 输出阻抗结果。

图 14 - J2160A 和 PS4501 VRM 的 NISM 输出阻抗结果。
如图 11 和图 14 中的结果所示,使用 Nism 和 E5061B 的 P2102A 点测头,可以精确确定 VRM 的控制回路稳定性。
使用 E5061B 的 P2102A 校准和 NISM 设置检查表
使用 J2102B 共模变压器和 J2160A 2 端口探头适配器进行串联电阻测量,校准分流直通阻抗的测试装置。
使用 E5061B 和 J2102B 共模变压器进行 2 端口校准和 NISM 设置
如图 7 所示,打开 E5061B 通电后,连接电缆进行校准,请按照以下步骤校准测量装置,然后再对被测设备进行测量。
第 1 步:(在 E5061B 上)按 >卡尔)按钮
第 2 步:设置 >, Z0 下指定,设置 > 卢比 通过在 Z0 下指定(如图 15 所示)
*注意:只需为 P2102A-2X、5X、10X 探针指定 Rs。对于 1X 探针,可以忽略此步骤。对于 DC Block,请使用 1X 设置。
第 3 步:选择>校准
第 4 步:选择 >2 端口校准*
第 5 步:选择 >传输
步骤6:根据需要将 Probe 放在校准基板上。参考图 16.
第 7 步:选择>端口 1-2 直通
✔ 将出现在 'Port 1-2 Thru' LSK 旁边
第 8 步:选择 >返回
第 9 步:确保NISM 的。VBA首先将宏复制到分析器的 D:\ 驱动器。
*注意:如果软件是以 zip 文件的形式通过电子邮件发送的,则可能需要解压缩 NISM 文件夹。在某些情况下,由于电子邮件系统限制,可能需要在解压缩之前将 zip 文件从 nism.txt 重命名为 nism.zip。
第 10 步:按 >宏设置按钮
第 11 步:选择 >加载项目
步骤 12 选择>NISM 的。VBA
第 13 步:按 >宏运行按钮
第 14 步:在“模式菜单”弹出窗口中,选择>端口 1 - 端口 2
第 15 步:选择>计算 Q
第 16 步:首先手动将标记 1 定位在走线 1(输出阻抗)上的阻抗峰值处。然后选择 Marker 1 Peak Finder>
第 17 步:手动将标记 2 定位在峰上的迹线 2(有效 Q 波形)上频率最接近阻抗峰值。然后选择 > Marker 2 Peak Finder。
第 18 步:选择>计算 PM
*注意:此测量仅限于大约 71 度或更小的相位裕量。
*注意:如果您更改或重新测量输出阻抗,则需要单击“计算 Q”按钮重新测量阻抗并重新计算有效 Q 波形。
使用 E5061B 和 J2160A 2 端口探头适配器进行 2 端口校准和 NISM 设置
如图 8 所示,打开 E5061B 通电后,连接电缆进行校准,请按照以下步骤校准测量装置,然后再对被测设备进行测量。
第 1 步:(在 E5061B 上)按 >测量按钮
第 2 步:选择 >Impedance Analysis 菜单
第 3 步:选择>方法 端口 1 引用
第 4 步:选择 >GP 分流器 T 50Ω,R 50Ω
第 5 步:选择 >|Z|
第 6 步:选择 >增益相位设置
第 7 步:设置 >T 输入 Z= 50 Ω
第 8 步:设置 >R 输入 Z= 50 Ω
根据需要设置T 衰减器 & R 衰减器 设置
第 9 步:按 >卡尔按钮
步骤 10:设置 >, Z0 下指定,设置 > 卢比 通过在 Z0 下指定(如图 15 所示)
*注意:只需为 P2102A-2X、5X、10X 探针指定 Rs。对于 1X 探针,可以忽略此步骤。
第 11 步:选择 >校准
第 12 步:选择 >响应 (Thru)
第 13 步:确保选择端口 > GP 端口*
步骤14:根据需要将 Probe 放在校准基板上。参考图 16.
第 15 步:选择>通过
第 16 步:选择 >做
第 17 步:选择 >返回
步骤 18:确保NISM 的。VBA首先将宏复制到分析器的 D:\ 驱动器。
*注意:如果软件是以 zip 文件的形式通过电子邮件发送的,则可能需要解压缩 NISM 文件夹。在某些情况下,由于电子邮件系统限制,可能需要在解压缩之前将 zip 文件从 nism.txt 重命名为 nism.zip。
第 19 步:按 >宏设置按钮
第 20 步:选择 >加载项目
第 21 步 选择 >NISM 的。VBA
第 22 步:按 >宏运行按钮
第 23 步:在“模式菜单”弹出窗口中,选择 >T over R
第 24 步:选择 >计算 Q)
第 25 步:首先在阻抗峰值处手动将标记 1 定位在迹线 1(输出阻抗)上。然后选择 Marker 1 Peak Finder>
步骤 26:手动将标记 2 定位在峰上的迹线 2(有效 Q 波形)上频率最接近阻抗峰值。然后选择 > Marker 2 Peak Finder。
第 27 步:选择 >计算 PM
*注意:此测量仅限于大约 71 度或更小的相位裕量。
*注意:如果您更改或重新测量输出阻抗,则需要单击“计算 Q”按钮重新测量阻抗并重新计算有效 Q 波形。

图 15 - E5061B 校准菜单,其中 Z0 高亮显示。

图 16 - P2102A 2 端口校准 - 直通。
结论
借助 NISM,2 端口分流直通阻抗方法使工程师能够轻松有效地测量 VRM 的输出阻抗和控制环路增益(相位)稳定性性能。
P2102A 点测探头使您能够非常简单、快速、准确地进行 2 端口阻抗测量,从而更好地设计电源的稳定性并提供快速的 GO/NO-GO 测试。测量阻抗时,我们不仅可以确定 VRM 的稳定性,还可以确定电源分配网络由什么组成。我们甚至可以根据阻抗测量创建高精度的 VRM 模型,包括时域、频域甚至 EMI 相关数据。我们可以判断阻抗的哪些部分基于控制环路性能,哪些部分基于印刷电路板和/或去耦性能。
如果您真的想测量平面或高频阻抗,P2104A 1 端口探头 [13] 可能是更好的选择。
如本文档所示,要使用 NISM 通过带有 P2102A 点测探头的 E5061B VNA 进行低阻抗测量:
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必须拥有正确的(低电感)探头、高质量的电缆以及共模变压器 (J2102B) 或 2 端口探头适配器 (J2160A)。
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您必须正确校准您的设置,因为这对于实现高保真测量和消除测试设置误差源至关重要。
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需要一致、可重复的接触电阻,以施加一致的尖端压力。这可以使用如图所示的 N2787A 探头支架、ClampMan [14] 或 PacketMicro 的探头支架之一 [15] 来完成。
引用
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美国国家标准研究院
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使用 2 端口分流直通的超低阻抗(100 微欧姆及更低)测量
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Keyisght E5061B 矢量网络分析仪
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Picotest P2102A - 2 端口 PDN 传输线探头
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Picotest J2102B-N - 共模互感器
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用于 E5061B 的 Picotest J2160A 2 端口探头适配器面板
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Picotest PDN 电缆®
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Pasternack PE9002 - N 公头转 BNC 母头适配器
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Picotest 3DPP-200 探头支架套件 |Signal Edge 解决方案
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DUT - Picotest LM20143
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DUT - Infineon PS5401 评估版
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J2113A 半浮动差分放大器
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Picotest P2104A 1 端口探头
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ClampMan PCB 支架和夹紧解决方案
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PacketMicro TP150 精密定位器